赛默斐视离型层厚度检测仪-高精度检测

　　薄膜厚度对于实际生产来说是很重要的指标，因此无论是技术方面的检测还是成本方面的问题，对厂家来说都是很大的挑战，那么厂家到底该如何检测薄膜厚度才能即准确又省钱呢？

　　目前，薄膜厚度测量比较经济的方式是对部分价格昂贵的涂层材料进行涂层厚度的检测，同时加强对薄膜整体厚度的测试以达到有效控制其他各层材料厚度均匀性的作用。因此在这里给大家推荐赛默斐视光学干涉测厚仪：

　　赛默斐视光学干涉测厚仪专为透明薄膜开发的。光学干涉测厚仪能够良好地实现单层或多层透明薄膜的厚度测量。应用在涂胶工序时，该设备放置于涂胶池后，烘箱前，在线测量涂胶的厚度。可以放在线测量离型膜涂布的厚度。精度较其高，应用甚广，尤其适合厚度要求达到纳米级的透明多层物体的厚度测量。

　　性能：

　　1、测量范围：0.1um～100um

　　2、测量精度：0.4%

　　3、测量重复性：±0.4nm

　　4、波长范围：380nm～1100 nm

　　5、响应时间：5～500ms

　　6、测量光斑：1mm～30mm

　　7、动态扫描测量重复性:10nm

　　特点：

　　1、在线测量透明薄膜的厚度，实时监控厚度趋势，帮助反馈调节设备，提高产品一致性

　　2、可以输出横向纵向趋势图，有zui大值，zui小值，较差，CPK等统计参数

　　3、可支持多层厚度同时测量

　　无锡赛默斐视科技有限公司成立于江苏无锡，是一家高科技企业，致力于为制造自动化领域提供视觉软件系统、视觉传感器和表面瑕疵检测系统。公司核心技术团队由海外归国人员组成，并积极与国外校企建立技术合作，依托与国外技术的国际化接轨，掌握核心的CCD工业相机技术、光学成像技术及的软件系统。能够为您提供个性化定制和系统的解决方案。公司拥有完善的售后服务体系，能够为您提供现场、电话沟通、远程视频、常见问题视频库等立体服务，我们的服务：二十四小时三百六十度。